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IR-Konverteroptik für Beam Profiler von DataRay

IR-Konverteroptik für Beam Profiler zur Messung von Intensitätsverteilung im NIR Bereich zwischen 1480 und 1600 nm.

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0,00 € zzgl. MwSt.




Maximilian Kellner
Sales & Marketing
+49 8153 405-18
m.kellner@laser2000.de
Produktanfrage: IR-Konverteroptik für Beam Profiler von DataRayX



Sehr geehrte(r) Herr Kellner,

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Eugenie Neureuther
Sales & Marketing
+49 8153 405-53
e.neureuther@laser2000.de
Produktanfrage: IR-Konverteroptik für Beam Profiler von DataRayX



Sehr geehrte(r) Frau Neureuther,

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IR-Konverteroptik für Beam Profiler
 

Die IR-Konverteroptik ermöglicht es mit Standard-Si Beam Profilern (CCD oder CMOS), wie der WinCamD, Intensitätsverteilungen im NIR Bereich zwischen 1480 und 1600 nm zu messen. Das eigentliche Konversionsmodul befindet sich dabei zwischen einer großformatigen Optik und der digitalen Kamera und ermöglicht damit Messungen im Telekom-Wellenlängenbereich in Echtzeit.


Highlights

  • Erweiterung des Wellenlängenbereiches von Standard Si-Kameras um den Bereich 1480 -1600 nm
  • Hohe Auflösung, geringe Störungen und gute Gleichförmigkeit
  • Kein Bildfading und keine Verzögerung
  • Großes AR beschichtetes Eintrittsfenster und Optik
  • Preisgünstige Alternative zu IR-Kameras
 

Parameter:Spezifikation
Aktive Fläche: (mm)ø 27.5
Spektrale Empfindlichkeit: (nm)1480 -1600 
Peak Konversion: (nm)1510 und 1540 (keine flache Kurve, Multi-Peak)
Konvertierter Wellenlängenbereich: (nm)950 bis 1075
Störung:-1.0% Barell distortion (invertiertes Bild)
Linearität:nicht linear
Spektrale Transmission:(nm)360 - 2000 @ F30.8
Max. Leistungsdichte: (W/cm2)1  (Zerstörschwelle)
Dynamikbereich: (dB)48 mit Digitalkamera
Gewindeanschluß:C-Mount (Adapter für andere Anschlüsse auf Anfrage)
Kameraformat:1/2" oder größer
Maße:ø 46 mm x 97 mm, 210 g
Arbeitstemperaturbereich:-10° bis +40°C

Die komplette Dokumentation zur Strahlprofilanalyse von DataRay finden Sie hier

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