Laser Beam Profiler BeamR2

Beschreibung

Scanningsystem BeamR für fokussierte Laserstrahlen

Der Beam Profiler "BeamR" ist die Grundform unserer Scanningsysteme mit rotierenden Schlitzen. Der Puck (rotierende Scheibe) im Messkopf hat vier verschiedene Schlitzblenden (je zwei Schlitzpaare) in einer Ebene der optischen Achse. Durch die gleichzeitig verwendeten XY-Schlitzblenden mit unterschiedlicher Schlitzbreite, können Laser mit Durchmessern von 2 µm bis 4 mm vermessen werden. Dabei wird automatisch zwischen dem Scanning-Slit Verfahren und der Knife-Edge Methode umgeschaltet. Ein Wechsel der Schlitze durch den Anwender ist nicht möglich.

Der Messkopf ist drehbar gelagert und besitzt einen Encoder für die Winkelposition. Damit ist ein einfaches und schnelles Auffinden der Haupt- und Nebenachse bei elliptischen Strahlprofilen möglich.
Die Messgeschwindigkeit des BeamR kann vom Anwender zwischen 2 Hz und 12 Hz eingestellt werden. Die Auflösung beträgt <0.1 µm.

Alle unsere Scanning-Slit-Messysteme (BeamScope, BeamMAP, BeamCollimate und BeamR) verwenden neuartige, speziell entwickelte Hochleistungs-Saphir-Schlitzblenden. Diese Aperturen haben einen nahezu echten 2D-Charakter und vermeiden damit Reflexionen oder Tunneleffekte innerhalb der Ausbreitungsrichtung des Lichtes und verringern damit den Messfehler der sonst besonders bei der Vermessung stark divergenter Strahlung auftreten kann.

Der Beam Profiler "BeamR" ist die preiswerteste Single-Plane Scanning Slit Lösung und wird hauptsächlich zur Vermessung des Strahlprofils bei kleinen Intensitätsverteilungen eingesetzt. Eine Vermessung gepulster Quellen mit > 100 kHz und hohem Duty Cycle ist ebenso möglich. Die maximale direkt messbare Leistung(sdichte) beträgt 1 W bzw. 0,3 mW/µm².


Detektoroptionen

• Silizium: 190 nm bis 1150 nm
• InGaAs: 650 nm bis 1800 nm
• Kombination Silizium und InGaAs: 190 nm bis 1800 nm
• Kombination Silizium und extended InGaAs: 190 nm bis 2500 nm

Die komplette Dokumentation zur Strahlprofilanalyse von DataRay finden Sie hier.