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Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap von DataRay

Produkt-Nr.: DAT-BeamMAP

Der Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap ermöglicht durch die patentierte Multiplane-Scanning Methode die Vermessung der Fokuslage, des Durchmessers (nach ISO 11146), der Divergenz und des M2-Faktors von Lasern in Echtzeit.



0,00 € zzgl. MwSt.




Dr. Stefan Kremser
Sales & Marketing
+49 8153 405-16
s.kremser@laser2000.de
Produktanfrage: Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap von DataRayX



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Eugenie Neureuther
Sales & Marketing
+49 8153 405-53
e.neureuther@laser2000.de
Produktanfrage: Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap von DataRayX



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Produktbeschreibung

Multiplane Scanningsystem BeamMap / BeamMap-Classic für fokussierte Strahlung und Echtzeit M2-Messung

Die Strahldurchmesser von 0.5 µm bis über 3 mm können mit dem kleinen drehbaren Messkopf direkt vermessen werden.

Messprinzip

Auf einem rotierenden Träger (Puck) befinden sich Einzel- oder XY-Schlitzpaare in 4 oder 5 Ebenen mit unterschiedlichem Abstand von der Eintrittsöffnung. Die Drehachse des Pucks liegt in Ausbreitungsrichtung des Strahls. Durch die Messung des Strahldurchmessers und des Schwerpunktes als Funktion der Ausbreitungsrichtung, können sowohl die Divergenz als auch die Strahl- und Fokuslage bzgl. der Z-Achse während eines Umlaufes bestimmt werden. Der Abstand der Ebenen und damit der Messbereich des Systems hängt von den jeweiligen Laserparametern ab und kann über ein Excel-Programm berechnet werden. Die Abstände der Ebenen sind durch den Anwender nicht änderbar.

Aus den XY-Profilen wird die 2D- und 3D-Darstellung berechnet. Um den Astigmatismus und den M2-Faktor der anderen Achsen zu bestimmen, kann der Messkopf um die Strahlachse gedreht werden. Der jeweilige Drehwinkel wird dabei an den Profilen angezeigt.

Um den M2-Wert von kollimierten Lasern zu berechnen, ist eine zusätzliche kurzbrennweitige Linse erforderlich um den Strahl in den Messkopf zu fokussieren und eine hinreichend starke Kaustik zu erzeugen. Alternativ kann für kollimierte Strahlung auch die Ausführung BeamCollimate verwendet werden.
Bitte wählen Sie für einen geringeren Abstand zum Detektor eine Lensplate
(DAT-LP2)

 

Das Whitepaper im Downloadbereich erklärt die Nutzung des Beam Profiler "BeamMap" sehr anschaulich!

 

BeamMap-XY - 4 Ebenen: Der Messkopf verfügt in dieser Version über insgesamt vier XY-Schlitzblenden in 4 verschiedenen Ebenen längs der optischen Achse. Bei jedem Umlauf werden die XY-Profile an allen vier Punkten gemessen. Es können für jede Ebene die XY-Profile mit den berechneten 2D/3D Bildern oder alle 4 X bzw. Y Profile gleichzeitig dargestellt werden.


Der Beam Profiler "BeamMap" wird standardmäßig mit Silizium-, InGaAs- oder InAs-Messkopf angeboten und ist damit von 190-3500 nm einsetzbar.

Alle unsere Scanning-Slit-Messsysteme(BeamScope, BeamMap, BeamCollimate und BeamR) verwenden Hochleistungs-Saphir-Schlitzblenden. Diese Aperturen haben einen nahezu echten 2D-Charakter und vermeiden damit Reflexionen oder Tunneleffekte innerhalb der Ausbreitungsrichtung des Lichtes und verringern damit den Messfehler der sonst besonders bei der Vermessung stark divergenter Strahlung auftreten kann.



Parameter:Spezifikation
Strahldurchmesser:Ø 0,5 µm bis > Ø 3 mm (Ø 2 mm @ InAs)
Detektor:Wellenlängenbereich
- Si: (nm)190 - 1150
- InGaAs: (nm)700 - 1750
- extended InGaAs: (nm)1000 - 2400
- InAs: (mm)1000 - 3500
Durchmesser:1/e2 / Anwenderspezifisch / Knife-Edge / 2.Momente (ISO 11146) / Gaussfit
Auflösung XY-Profile & Schwerpunkt:0.1 µm oder 0.05% des Durchmessers
Genauigkeit:± <2% oder ± 0.5 µm
Fokuslage XYZ:± 2 µm über 1 mm in Z
Divergenz:± 1 mrad über ± 100 mrad Bereich
M2 Messung:1 bis > 20, ± 5%
Datenrate (update): (Hz)3.6
Max. Leistung: (W)1
Max. Leistungsdichte:1 mW/µm^2 (geringer bei UV)
Opt. Dynamikbereich:45 dB, automatisch / man. Gain
Anzeige:XY Profile / Schwerpunkt XY / M2 / Fokuslage / Divergenz / Strahllage
Analysefunktionen:Pass-Fail / Mittelwertbildung / Min-Max / Standardabweichung
Ansteuerung:USB
Digitalisierung: (Bit)12

Der Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap ermöglicht durch die Multiplane-Scanning Methode die Vermessung der Fokuslage, des Durchmessers, der Divergenz und des M2-Faktors.

 

Die aktuelle Software kann auf der Herstellerseite kostenlos herunter geladen werden. 

Die komplette Dokumentation zur Strahlprofilanalyse von DataRay finden Sie hier

Downloads - Beam Profiler / Multiplane-Schlitzscanner BeamMap von DataRay

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