- modular aufgebaut für verschiedene Wellenlängenbereiche und Auflösungen
- erweiterbar auf 8 Kanäle
- gepulster diodengepumpter Nd:YAG-Laser
- Wellenlänge 1064 um; 1 Hz; 4 ns; 25 mJ; Lebensdauer > 300.000 Pulse
- Abmessungender Probenkammer 50 x 50 x 75 mm
- Betrieb über USB 2 Schnittstelle
- Leistungsaufnahme 350 mA @ 12 VDC
- einschließlich Tragekoffer, 18 x 35 x 46 cm
Um eine bestmögliche Anpassung an unterschiedliche Aufgabenstellungen zu erreichen, ist das STE-PORTA-LIBS-2000 in zwei Varianten zu erhalten. Eine hochauflösende und eine normale Version, welche sich durch ihre Auflösung und ihren Wellenlängenbereich unterscheiden.
In der hochauflösenden Version kann pro Kanal ein Wellenlängenbereich von 100 nm bei einer maximalen Auflösung von 0,1 nm untersucht werden. In der Standard-Version ist die Untersuchung innerhalb eines Wellenlängenbereichs von 200 nm bei einer maximalen Auflösung von 0,2 nm je Kanal möglich. Um einen höheren Wellenlängenbereich abdecken zu können, kann das STE-PORTA-LIBS-2000 auf bis zu 8 unabhängige Kanäle erweitert werden, welche gemeinsam durch die SpectraWiz Software gesteuert werden können.
Die innerhalb des Systems verwendeten Spektrometer sind durch ihre robuste Bauform äußert unempfindlich gegenüber Vibrationen. Dadurch eignet sich das System auch für Anwendungen, innerhalb denen der Messaufbau bewegt bzw. transportiert werden muss.
Spektrometer
| Modell |
Wellenlänge (nm) |
Gitter |
Spalt-14 |
|
|
g/mm |
nm res. |
| STE-BW-LSR-UV2 |
200-400 |
2400 |
0,2 |
| STE-BW-LSR-VIS4 |
400-600 |
2400 |
0,2 |
| STE-BW-LSR-VIS4b |
600-800 |
2400 |
0,2 |
| STE-BW-LSR-NIR3b |
800-1000 |
1800 |
0,2 |
und
| Modell |
Wellenlänge (nm) |
Gitter |
Spalt-7 |
|
|
g/mm |
nm res. |
| STE-EPP2000-LHR-UV3 |
200-300 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-UV3b |
300-400 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-VIS3 |
400-500 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-VIS3b |
500-600 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-VIS3c |
600-700 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-NIR3 |
700-800 |
1800 |
0,1 |
| STE-EPP2000-LHR-VIS2 |
800-925 |
1200 |
0,1 |
Innerhalb dieses Verfahrens wird ein gepulster Laser hoher Intensität auf die Probenoberfläche fokussiert. Liegt die Intensität über einem definierten Grenzwert, verdampft Material und es entsteht Plasma an der Probenoberfläche. Durch inverse Bremsstrahlung, Photoionisation und Photoanregung von Atomen und Molekülen wird das ausgestrahlte Laserlicht zunehmend absorbiert.
Damit erhöht sich die Zahl energetischer Elektronen für eine weitere Ionisation unter dem Einfluss der ausgestrahlten, optischen Leistung lawinenartig. Es entsteht ein optischer Durchbruch. Die angeregten und strahlenden Atome und Ionen im Plasma emittieren nun ein charakteristisches, optisches Spektrum. Mit der folgenden spektralen Analyse kann eine qualitative und quantitative Untersuchung der atomaren Zusammensetzung der Probe erfolgen.
In der im Lieferumfang enthaltenen Software SpectraWiz ist eine Datenbank über die spektralen Emissionseigenschaften verschiedener Elemente integriert. Damit kann aus dem optischen Spektrum die chemische Zusammensetzung des untersuchten Materials eindeutig bestimmt werden. Zusätzlich kann die Datenbank kundenspezifisch erweitert werden.
