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Beam Profiler / Schlitzscanner BeamR

Produkt-Nr.: DAT-BeamR2

Das Scanningsystem BeamR mit rotierenden Schlitzen für die Vermessung von Lasern mit Durchmessern von 0,5 µm bis über 3mm



0,00 € zzgl. MwSt.




Franz Brandl
Sales Engineer
+49 8153 405-71
f.brandl@laser2000.de
Produktanfrage: Beam Profiler / Schlitzscanner BeamRX



Sehr geehrte(r) Herr Brandl,

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Eugenie Neureuther
Sales Engineer
+49 8153 405-53
e.neureuther@laser2000.de
Produktanfrage: Beam Profiler / Schlitzscanner BeamRX



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Produktbeschreibung

Single-Plane, rot. Scanningsystem BeamR

Beschreibung

Der Beam Profiler "BeamR" ist die Grundform unserer Scanningsysteme mit rotierenden Schlitzen. Der Puck (rot. Scheibe) im Messkopf hat vier verschiedene Schlitzblenden (je zwei Schlitzpaare) in einer Ebene der optischen Achse. Durch die gleichzeitig verwendeten XY-Schlitzblenden mit unterschiedlicher Schlitzbreite, können Laser mit Durchmessern von 0,5 µm bis über 3 mm vermessen werden. Dabei wird automatisch zwischen dem Scanning-Slit Verfahren und der Knife-Edge Methode umgeschaltet. Ein Wechsel der Schlitze durch den Anwender ist nicht möglich.

Der Messkopf ist drehbar gelagert und besitzt einen Encoder für die Winkelposition. Damit ist ein einfaches und schnelles Auffinden der Haupt- und Nebenachse bei elliptischen Strahlprofilen möglich.
Die Messgeschwindigkeit des BeamR beträgt >3 Hz. Die Profile werden mit 12-Bit Auflösung gescannt. Die Auflösung beträgt <0.1 µm.

Alle unsere Scanning-Slit-Messysteme (BeamScope, BeamMAP, BeamCollimate und BeamR) verwenden neuartige, speziell entwickelte Hochleistungs-Saphir-Schlitzblenden. Diese Aperturen haben einen nahezu echten 2D-Charakter und vermeiden damit Reflexionen oder Tunneleffekte innerhalb der Ausbreitungsrichtung des Lichtes und verringern damit den Messfehler der sonst besonders bei der Vermessung stark divergenter Strahlung auftreten kann.

Der Beam Profiler "BeamR" ist die preiswerteste Single-Plane Scanning Slit Lösung und wird hauptsächlich zur Vermessung des Strahlprofils bei kleinen Intensitätsverteilungen eingesetzt. Eine Vermessung gepulster Quellen mit > 100 kHz und hohem Duty Cycle ist ebenso möglich. Die maximale direkt messbare Leistung beträgt 1 W bzw. 1 mW/µm2.

Das komplette System besteht aus dem Scankopf, dem Anschlußkabel und der Software.



Eigenschaften des Beam Profiler

  • Empfindlichkeitsbereich von 190 nm - 4 µm mit vier verschiedenen Detektoren
  • 12 Bit Digitalisierung
  • XY Profile in Echtzeit (3 Hz)
  • Auflösung < 0.1 µm
  • Kleinster messbarer Strahldurchmesser 0.5 µm
  • Optischer Dynamikbereich von 45 dB

Parameter:Spezifikation
Lasersysteme:cw, gepulst Folgefrequenz > 100kHz hoher Duty Cycle
Wellenlängenbereich:
Si-Detektor: (nm)190 - 1150
InGaAs-Detektor: (nm)650 - 1800
extended-InGaAs: (nm)190 - 2500
InAs-Detektor: (µm)1.5 - 4 (auf Anfrage)
max. optische Leistung:1 W bzw. 1 mW/µm Details siehe Chart im Download
Dynamikbereich: (dB)45
Messbereich:0.5 µm bis 3 mm (ø 2 mm bei InAs)
Auflösung:0.1 µm oder 0.5% des Strahldurchmessers
Profile:X ; Y oder X&Y, lin. oder log. Darstellung / 2D; 3D
Profilparameter:Strahldurchmesser / Gaussfit / Ø nach 2.Momenten / Knife Edge / Schwerpunkt / Elliptiziät / Strahllage
Update Rate: (Hz)3.6
Datenanalyse:Pass/Fail, Mittelwertbildung, Standardabweichung
Maße:

siehe Zeichnung

Die komplette Dokumentation zur Strahlprofilanalyse von DataRay finden Sie hier

Downloads - Beam Profiler / Schlitzscanner BeamR

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