IR-Konverteroptik für Beam Profiler zur Messung von Intensitätsverteilung im NIR Bereich zwischen 1480 und 1600 nm.
Die IR-Konverteroptik ermöglicht es mit Standard-Si Beam Profilern (CCD oder CMOS), wie der WinCamD, Intensitätsverteilungen im NIR Bereich zwischen 1480 und 1600 nm zu messen. Das eigentliche Konversionsmodul befindet sich dabei zwischen einer großformatigen Optik und der digitalen Kamera und ermöglicht damit Messungen im Telekom-Wellenlängenbereich in Echtzeit.
Highlights
Parameter: | Spezifikation |
Aktive Fläche: (mm) | ø 27.5 |
Spektrale Empfindlichkeit: (nm) | 1480 -1600 |
Peak Konversion: (nm) | 1510 und 1540 (keine flache Kurve, Multi-Peak) |
Konvertierter Wellenlängenbereich: (nm) | 950 bis 1075 |
Störung: | -1.0% Barell distortion (invertiertes Bild) |
Linearität: | nicht linear |
Spektrale Transmission:(nm) | 360 - 2000 @ F30.8 |
Max. Leistungsdichte: (W/cm2) | 1 (Zerstörschwelle) |
Dynamikbereich: (dB) | 48 mit Digitalkamera |
Gewindeanschluß: | C-Mount (Adapter für andere Anschlüsse auf Anfrage) |
Kameraformat: | 1/2" oder größer |
Maße: | ø 46 mm x 97 mm, 210 g |
Arbeitstemperaturbereich: | -10° bis +40°C |
Die komplette Dokumentation zur Strahlprofilanalyse von DataRay finden Sie hier.
WinCamD-NIR: Economical Telecom beam profiling, 1475 - 1600 nm
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