IR-Konverteroptik für Beam Profiler von DataRay

Produktbeschreibung

IR-Konverteroptik für Beam Profiler

Die IR-Konverteroptik ermöglicht es mit Standard-Si Beam Profilern (CCD oder CMOS), wie der WinCamD, Intensitätsverteilungen im NIR Bereich zwischen 1480 und 1600 nm zu messen. Das eigentliche Konversionsmodul befindet sich dabei zwischen einer großformatigen Optik und der digitalen Kamera und ermöglicht damit Messungen im Telekom-Wellenlängenbereich in Echtzeit.

Highlights

Erweiterung des Wellenlängenbereiches von Standard Si-Kameras um den Bereich 1480 -1600 nm
Hohe Auflösung, geringe Störungen und gute Gleichförmigkeit
Kein Bildfading und keine Verzögerung
Großes AR beschichtetes Eintrittsfenster und Optik
Preisgünstige Alternative zu IR-Kameras

Parameter:	Spezifikation
Aktive Fläche: (mm)	ø 27.5
Spektrale Empfindlichkeit: (nm)	1480 -1600
Peak Konversion: (nm)	1510 und 1540 (keine flache Kurve, Multi-Peak)
Konvertierter Wellenlängenbereich: (nm)	950 bis 1075
Störung:	-1.0% Barell distortion (invertiertes Bild)
Linearität:	nicht linear
Spektrale Transmission:(nm)	360 - 2000 @ F30.8
Max. Leistungsdichte: (W/cm²)	1 (Zerstörschwelle)
Dynamikbereich: (dB)	48 mit Digitalkamera
Gewindeanschluß:	C-Mount (Adapter für andere Anschlüsse auf Anfrage)
Kameraformat:	1/2" oder größer
Maße:	ø 46 mm x 97 mm, 210 g
Arbeitstemperaturbereich:	-10° bis +40°C