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Optische Messtechnik Es gibt 145 Produkte.

Beam Profiler werden in der Laserstrahlanalyse angewendet um exzellente Empfindlichkeit mit höchster Linearität und Dynamik zu kombinieren. Präzise Laserstrahlmessungen sind mit dem Beam Profiler möglich. Die CMOS-basierten Beam Profiler Systeme WinCamD-LCM und andere Kamera verfügen über C-Mount Anschlussgewinde und können mit Objektiven zur Abbildung oder Konverteroptiken zur Anpassung an andere Wellenlängen kombiniert werden. Darüber hinaus gibt es auch die Möglichkeit, die Beam Profiler und Schlitzscanner über LabView oder andere Programmierschnittstellen zu nutzen.

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  • Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.

  • Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.

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  • PolaWise™ ist ein fortschrittliches Polarisationsmess-System zur genauen Messung aller polarisationsbezogenen Eigenschaften von Lichtquellen und optischen Materialien.

  • Das Polarisationsanalysierende optische Frequenzbereichsreflektometer (PA-OFDR-A) ist ein bahnbrechendes Instrument von General Photonics.

  • Die MPC-203 ist eine spezielle Version des Multifunktionspolarisations-Kontrollers von General Photonics, der extrem hohe Polarisationsänderungsraten erreichen kann. Es kombiniert PolaRite ™ II / III-Polarisationskontroller mit proprietären Polarisationssteuerungsalgorithmen, um eine breite Palette von Polarisationskontrol-Funktionalitäten zu erreichen.

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  • Der Distributed-Polarization-Crosstalk-Analysator (GPC-PXA-1000) ist eine verbesserte Version eines Weißlichtinterferometers, das durch die Analyse der spannungsinduzierten Polarisations-Kreuzkopplung entlang der Strecke einer polarisationserhaltenden Faser (PM) eine ortsaufgelöste Information über die mechanischen Belastung liefert.

  • Das PSY-201 ist ein deterministischer Polarisationskontroller, der unabhängig von der Eingangs-SOP einen beliebigen Polarisationszustand (SOP) erzeugen und beibehalten kann.

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  • Das POD-201 ist ein FPGA basiertes Polarimeter, das speziell für die schnelle Polarisationsanalyse und -überwachung entwickelt wurde. Das Instrument verwendet vier Kanäle, um gleichzeitig die vier Stokes-Parameter des optischen Eingangssignals zu bestimmen und damit den momentanen Polarisationszustand (SOP) und den Grad der Polarisation (DOP) zu berechnen.

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  • Der OCA-1000 ist ein optischer Mehrkanal-Komponentenanalysator, der in der Lage ist, Einfügungsdämpfung (IL), polarisationsabhängige Dämpfung (PDL) und optische Leistung (P) auf mehreren optischen Ports parallel zu messen.

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  • Das PDL-Multimeter PolaChex™ misst gleichzeitig den polarisationsabhängigen Verlust (PDL), Einfügungsdämpfung (IL) und optische Leistung eines Prüflings (DUT) in nur 30 ms.

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  • Der DOP-201 misst und zeigt den Polarisationsgrad (DOP) einer Lichtquelle in Echtzeit mit hoher Genauigkeit und großem Dynamikbereich an.

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  • Das ERM-202 ist ein Zweikanal-Polarisations-Extinktionsverhältnis-(PER)-Messgerät, das speziell zur simultanen Messung der PER- und des Leistungsverhältnisses optischer Komponenten mit zwei polarisationserhaltenden (PM) Faserausgängen wie PM-Koppler, PM-Strahlteiler, Kopplern von PM-Faserkreiseln entwickelt wurde.

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